二氧化硫氣體腐蝕測試,日本山崎精機

150元2024-11-12 15:40:16
  • 深圳市一通檢測技術(shù)有限公司
  • 氣體腐蝕試驗
  • 腐蝕性氣體試驗,腐蝕氣體減壓閥,氣體腐蝕,氣體腐蝕試驗箱
  • 李青山
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二氧化硫氣體腐蝕測試,日本山崎精機

測試目的:
用于確定零部件、電子元件、金屬材料、電工、電子等產(chǎn)品的防護層以及工業(yè)產(chǎn)品的在Cl2氣體中的腐蝕能力。
測試參考標(biāo)準(zhǔn):
ISO 21207
GB/T2423.51-2000
IEC 68-2-60:1995
GB/T 2423.33-2005
GB/T 2423.19-1981 等。


測試目的和意義:
大多數(shù)產(chǎn)品所使用的環(huán)境都是在大氣中,而大多數(shù)的腐蝕發(fā)生在大氣環(huán)境中,大氣中含有氧氣、濕度、溫度變化和污染物等腐蝕成分和腐蝕因素。大氣環(huán)境導(dǎo)致金屬表面形成水膜,在大氣中存在H2S、SO2、NO2、Cl2等有害氣體溶入金屬表面上所形成的水膜中,作為腐蝕性離子從而加速腐蝕進程。

參考標(biāo)準(zhǔn)
ISO 21207人工大氣中的腐蝕試驗 交替暴露在腐蝕性氣體、中性鹽霧及干燥環(huán)境中的加速腐蝕試驗
GB/T2423.51-2000 (idt IEC 68-2-60:1995)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗
第2部分: 試驗方法 試驗Ke: 流動混合氣體腐蝕試驗;
GB/T 2423.33-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗
第2部分:試驗方法 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗;
GB/T 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法

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